表面分析、元素・物性分析、分光・分離分析、非破壊内部観察など、
金属材料、有機系材料調査および製品調査を行う技術。
材料開発、異物調査、製品非破壊検査などを自社で行うことにより、
開発期間短縮、問題解決期間短縮などを実現。
FE-EPMA
試料表面に電子線を照射し、発生した特性X線を
波長分散型X線分析装置（WDS）にて分析することにより、
試料の組成を調査。
SEM-EDS
試料表面に電子線を照射し、発生した二次電子、
反射電子の強度から表面状態を拡大して観察。
電子線照射時に発生する特性X線を検出して、元素情報を取得する
エネルギー分散型X線分析装置（EDS）も搭載。
X線CTスキャナ
X線を物体に投射し、材質や構造によって異なるX線吸収量の
違いを検出して、物体の内部構造を観察。
360度の方向から観察したデータをコンピュータ処理することで
3次元情報も取得可能。
ガスクロマトグラフ
質量分析計（GC/MS）
前処理装置にて試料成分を気化させ、
GCで成分（化合物）ごとに分離。
分離した成分を質量分析計で検出し、
成分の定性および定量分析を行う。
FT-IR
顕微FT-IR
試料に赤外光を照射して得られるIRスペクトルにより、
定性および定量分析を行う。
顕微FT-IRでは、目に見えないほど微小領域の分析が可能。
異物計測装置
高速画像処理技術により、製品内部から採取した
ミクロンオーダーの異物を検出し、サイズ、数量、
種類（金属系、カーボン系、繊維系）を判別。
